ANSI N42.31-2003 离子辐射的宽能带隙半导体探测器的分辨和功效的测量规程
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时间:2024-05-25 23:07:16
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【英文标准名称】:MeasurementProceduresforResolutionandEfficiencyofWide-BandgapSemiconductorDetectorsofIonizingRadiation
【原文标准名称】:离子辐射的宽能带隙半导体探测器的分辨和功效的测量规程
【标准号】:ANSIN42.31-2003
【标准状态】:现行
【国别】:美国
【发布日期】:2003-02-20
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国国家标准学会(US-ANSI)
【起草单位】:IEEE(ASCN42)
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:效率;电离辐射;测量;分辨率;半导体探测器;半导体器件;宽的
【英文主题词】:Efficiency;Ionizingradiation;Measurement;Resolution;Semiconductordetectors;Semiconductordevices;Wide
【摘要】:Measurementandtestproceduresareestablishedforwide-bandgapsemiconductordetectorssuchascadmium-telluride(CdTe)cadmium-zinc-telluride(CdZnTe),andmercuriciodide(HgI2)thatcanbeusedatroomtemperatureforthedetectionandquantitative
【中国标准分类号】:F81
【国际标准分类号】:17_240
【页数】:
【正文语种】:英语
【原文标准名称】:离子辐射的宽能带隙半导体探测器的分辨和功效的测量规程
【标准号】:ANSIN42.31-2003
【标准状态】:现行
【国别】:美国
【发布日期】:2003-02-20
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国国家标准学会(US-ANSI)
【起草单位】:IEEE(ASCN42)
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:效率;电离辐射;测量;分辨率;半导体探测器;半导体器件;宽的
【英文主题词】:Efficiency;Ionizingradiation;Measurement;Resolution;Semiconductordetectors;Semiconductordevices;Wide
【摘要】:Measurementandtestproceduresareestablishedforwide-bandgapsemiconductordetectorssuchascadmium-telluride(CdTe)cadmium-zinc-telluride(CdZnTe),andmercuriciodide(HgI2)thatcanbeusedatroomtemperatureforthedetectionandquantitative
【中国标准分类号】:F81
【国际标准分类号】:17_240
【页数】:
【正文语种】:英语
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